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在有些設(shè)備的調(diào)試過程中,一般有用到CCD或者laser時,我們都會做一些標(biāo)定塊去輔助調(diào)試設(shè)備,例如在使用2D laser掃描高度時,會加工有段差的Gage block,但是不同的設(shè)備對應(yīng)不同的產(chǎn)品,同樣的一種Gage block 是否能適應(yīng)不同的設(shè)備?當(dāng)然有些是可以同樣,但通常是一臺設(shè)備做一種。為了方便調(diào)試,是否做的Gage block 要做成仿形的(和產(chǎn)品一樣),對掃描位置進(jìn)行相關(guān)性標(biāo)定、測試?
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請教各位大神,就標(biāo)定塊該如何做這個問題?請各位大神各抒己見,不同情況具體分析,laser標(biāo)定塊?CCD標(biāo)定塊?或者其他……再就是標(biāo)定塊的標(biāo)注公差問題,( w: w/ r) K# |" p# N
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